原位XAFS表征系统

型号规格：DEEP-INSPECTRA-X1

生产厂家：中研环科

主要功能：

X射线吸收精细结构谱（X-rayabsorptionfinestructure，XAFS）是一种用于研究物质局域原子、电子结构的表征方法。通过测量目标元素对不同能量X射线的吸收特性，XAFS可以给出关于物质中吸收原子的局域信息，包括其化学价态、配位原子种类、配位原子数以及结构对称性等。在材料科学中：（1）催化剂研究：揭示活性位点的动态结构变化，如纳米颗粒的配位环境、负载型催化剂的金属-载体相互作用。（2）能源材料：分析锂离子电池电极材料（如过渡金属氧化物）在充放电过程中的结构演变，或钙钛矿太阳能电池中铅的配位环境稳定性。

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代表成果

技术指标

Ø 能量范围: 5-15 keV

Ø 谱学能量分辨率能量分辨率，XANES：0.5～1.5 eV，EXAFS：1.5～10 eV

Ø 重复性 ≤50meV 能量尺度漂移，无需重复的单色仪校准

Ø 布拉格角范围: 55°~85°

Ø 单色光光通量: 不小于 200,000 photons/sec (7-9keV)，且 deadtime<30%

Ø X 射线管:Mo 靶，高压 10～40 kV，电流 5～40 mA，功率 1.6 kW

Ø 探测器 : 高精度 SDD 硅漂移探测器，有效探测面积不小于 100 mm²

Ø 操作软件: 基于 C++ 的中文软件系统，用于日常运转和测试，全自动化控制系统，一键式操作、可 24h 无人值守