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原位TXRD表征系统

型号规格:DEEP-TXRD-A
生产厂家:中研环科
主要功能:
1.微观结构解析:基于晶体衍射原理,精准解析材料晶型结构、晶格参数,通过衍射峰相关分析(角度定位、强度积分、峰形拟合),反演原子空间排布、原子间键合方式与配位环境。 2.物相检测分析:实现物相定性与定量检测,通过比对实验面间距 d 值与标准衍射数据库完成物相指纹识别,结合衍射强度积分计算组分含量,同时可通过峰形拟合表征晶粒尺寸与微观应变。 3.专项功能扩展:通过功能模块扩展,可开展薄膜织构、残余应力及纤维取向等专项分析。 4.自动化高效运行:依托集成化 PLC 控制系统与新型数字化模块化控制系统,实现高频高压电源模块、测角器、数据采集模块等协同运作,全流程自动化操作,提升设备稳定性与测试效率。 5.多领域适配应用:可应用于先进制造、材料科学、环境监测等领域,尤其在环境科学领域,能有效鉴别大气气溶胶矿物组分、工业颗粒物金属化合态、沉积物重金属赋存形态等复杂物相体系。
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技术指标:

1.X射线发生器

Ø 电源电压 (单相): 交流220V±10%

Ø 额定功率: 2.4kW高频高压固态发生器

Ø  X光管电压电流: 1060kV,1kV /Step, 260mA,1mA /Step

Ø 稳定度: ≤0.005%

2.测角仪:

Ø 扫描半径: 150mm~ 325mm连续可调

Ø 扫描范围: -110161°(可透射)

Ø 扫描速度: 0.0012120°/min

Ø  2θ角重复精度: 0.0001°

Ø 最小步进角度: 0.0001°

Ø 测量准确度: ≤0.001°

Ø 衍射角度线性度: ≤±0.01°

Ø 滤光片: Ni(用于Cu靶)

Ø 角度定位速度: 1500°/min(2θ)

3.探测器

Ø 分辨率: 9 lp/mm

Ø 最低能量探测极限: 3keV(Si)

Ø 冷却方式: 自然冷却